Le Centre de Spectroscopie des Surfaces et des Interfaces (C.S.S.I.) est dédié à l'analyse chimique des surfaces des matériaux solides.
Sur des épaisseurs de quelques couches atomiques jusqu'à quelques micromètres, les techniques d'analyse disponibles (XPS, HaXPES, TOF SIMS) permettent de décrire les matériaux en terme d'éléments présents avec des sensibilté qui peuvent atteindre quelques parties par million, d'environnement chimique, de nombre d'oxydation ou d'analyse moléculaire.
Les résolutions en épaisseurs sont inférieures au nanomètre. L'analyse peut également révéler des hétérogénéités en XY avec des résolutions submicroniques.